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GST 420 PC - 技術參數 溫度范圍:RT ... 1200°C 升降溫速率:0.01 ... 20 K/min 樣品支架:金屬(螺旋夾具) 檢測系統:LVDT 測量范圍:5000 μm(彎曲量) 樣品尺寸:長度 260 mm,寬度 12mm 左右,厚度 6mm 左右。中間約 80 mm 的部位須上釉 測量氣氛:空氣,靜態...
發布時間: 2018 - 05 - 11
DIL 402 E - 技術參數 溫度范圍:-180°C ... 500°C, RT ... 1600°C, (RT) ... 550°C ... 2400°C, (RT) ... 650°C ... 2800°C (取決于不同的可自由更換的爐體類型) 升降溫速率:0 ... 50 K/min(取決于爐體類型和溫度范圍) 樣品支架:石英支架(< 1100°C),氧化鋁支架(< 1700°C),石墨支架(2800°C) 測量范圍:500/5000 μm 樣品長度:25/50 mm 樣品直徑:最...
發布時間: 2018 - 05 - 11
DIL 402 Expedis Classic - 技術參數 溫度范圍:RT … 1600°C 升溫速率:0.001 ... 50 K/min 測量系統:NanoEye(單樣品,或雙樣品/差示系統) 樣品支架:熔融石英或氧化鋁,可自由更換。 溫度準確度:1 K 溫度精度:0.1 K m.CTE(平均線膨脹系數)重復性:10 -8 1/K 測量范圍:± 5000 μm 分辨率:2 nm(全量程) 樣品長度:0…52mm(自動樣品長度測量) 氣體控制:1 路(...
發布時間: 2018 - 05 - 11
DIL 402 Expedis Select/Supreme - 技術參數 溫度范圍:-180 ... 2800°C(多種爐體可選) 爐體滑軌:雙爐體(常規版本。第二爐體為選配);單爐體(2800°C版本) 升溫速率:0.001 ... 50 K/min 或 100 K/min(不同爐體) 測量系統:NanoEye(單樣品,或雙樣品/差示系統) 樣品支架:熔融石英或氧化鋁,可自由更換。 溫度準確度:1 K 溫度精度:0.1 K m.CTE(平均線膨脹系數)重...
發布時間: 2018 - 05 - 11
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